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发明专利
已授权
一种用于优化VDMOS加工工艺的方法
📄 申请号:CN202110596980.6
📄 发布日:2025/12/10
著录项目信息
申请日
2021-05-31
公开号
CN113363156B
公开日
2022-05-24
申请人
电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L21_336
IPC 分类号
H01L21_336
技术画像
所属领域
半导体器件
半导体器件
半导体制造工艺
功率电子器件
应用场景
电源管理, 电力电子, 汽车电子, 工业控制, 消费电子
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摘要
本发明公开了一种用于优化VDMOS加工工艺的方法,该方法的最小光刻层数为4层,分别是有源区光刻、多晶硅光刻、接触孔光刻、金属层光刻;本发明利用多晶硅光刻同时定义栅极、场板图形、P‑body、N+注入图形,其中body注入图形包括结终端保护环结构。即利用多晶硅光刻同时进行有源区和结终端保护环的P注入形成P‑body,再进行N+注入,实现栅极、场板、P‑body、N+图形的定义;利用接触孔光刻先刻蚀一部分N+区形成N‑source,最后进行P+注入形成P‑body区的欧姆接触,实现N‑source、P‑body区欧姆接触图形的定义。本发明对现有VDMOS版图设计及加工工艺进行改进,将现有的六道光刻版VDMOS工艺降低为四道版,并保证了器件性能无明显退化,由此节省了两层光刻工艺,从而缩短工艺流程、降低工艺成本。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20220524
✅ 授权
20210924
?? 实质审查的生效 :
20210907
📄 公开
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