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发明专利
已授权
晶圆退火处理设备及退火处理方法
📄 申请号:CN201710890662.4
📄 发布日:2025/09/08
著录项目信息
申请日
2017-09-27
公开号
CN107742612A
公开日
2018-02-27
申请人
德淮半导体有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L21_67
IPC 分类号
H01L21_67
技术画像
所属领域
半导体热处理设备
半导体热处理设备
晶圆制造工艺
快速热退火技术
应用场景
晶圆制造, 集成电路制造, 半导体器件加工, 芯片前道工艺
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摘要
本发明提供一种晶圆退火处理设备及退火方法,设备包括晶圆存放装置,用于存放待处理晶圆;预热装置,接收晶圆存放装置中的待处理晶圆并将其加热至第一温度;退火腔室,用于接收预热装置中的具有第一温度的待处理晶圆,并将其加热至退火温度以对待处理晶圆进行退火处理;降温装置,用于接收退火腔室中的具有退火温度的待处理晶圆,并将其降温至第二温度,以完成退火处理。通过上述方案,本发明提供的晶圆退火处理设备及方法,设置一个预热装置,缩短在退火腔室中加热的时间,大幅度提高产出;避免在退火腔室中加热时温差相对较大,导致加热灯泡的使用寿命短,更换以及维修频率较高的问题;可以提高晶圆受热均匀性,缓解晶圆处理过程中变形的问题。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
沟槽隔离结构的形成方法、化学气相沉积工艺
当前第 / 件
晶圆键合中的退火装置及退火方法
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