实用新型已授权

一种集成电路测试分选机

📄 申请号：CN202421112122.5 📄 发布日：2026/07/07

著录项目信息

申请日

2024-05-21

公开号

CN222394776U

公开日

2025-01-24

申请人

北京旺达世嘉科技发展有限公司

法律状态

已下证

专利类型

实用新型

主分类号

H01L21_66

IPC 分类号

H01L21_66 , B07C5_36 , B07C5_38 , B08B5_04 ,

技术画像

所属领域

集成电路测试集成电路测试半导体测试设备自动分选设备

应用场景

芯片测试分选, 半导体封装测试, 集成电路制造, 电子元器件检测

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摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试分选机，其包括输送装置，所述输送装置的上表面设有吸尘装置、次品检测器、分选装置，所述吸尘装置、分选装置分别位于输送装置的上表面两侧，所述次品检测器位于吸尘装置、分选装置之间，所述吸尘装置包括导向杆、丝杆、滑块、第二安装板、第一电机、真空泵、灰尘收集箱、伸缩管、吸尘头，所述导向杆对称分布在输送装置的上表面，所述第二安装板的底端固定连接在导向杆的上表面，所述第一电机、真空泵、灰尘收集箱固定安装在第二安装板的上表面，所述丝杆的一端固定安装在第一电机的输出端。通过上述结构，可以快速、高效地吸收和收集各种尺寸的灰尘颗粒，防止灰尘对集成电路测试产生的负面影响。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种集成电路管脚检测装置

当前第 / 件

一种集成电路测试用视觉打标装置

同领域国内专利 · IPC: (H01L21_66)

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