实用新型已授权

一种集成电路测试用视觉打标装置

📄 申请号：CN202421185076.1 📄 发布日：2026/07/07

著录项目信息

申请日

2024-05-28

公开号

CN222536587U

公开日

2025-02-28

申请人

北京旺达世嘉科技发展有限公司

法律状态

已下证

专利类型

实用新型

主分类号

B23K26_362

IPC 分类号

B23K26_362 , B07C5_34 , B23K26_70 , B23K101_42 ,

技术画像

所属领域

集成电路测试集成电路测试视觉检测激光打标

应用场景

集成电路测试, 半导体封装测试, 芯片标记, 晶圆加工, 电子元器件质量追溯

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摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试用视觉打标装置，该集成电路测试用视觉打标装置并排设置有四条料带导向槽，激光打标头能够一次对四颗集成电路进行序列号打标作业。相机拍摄视角内所有待检测的集成电路的图像后，发送至视觉检测系统检测芯片尺寸、切割间隙、芯片崩缺等问题，视觉检测系统记录下不合格芯片的序列号一变进行后续剔除处理。相机采用高精度分辨率相机，可以采集更多场景信息，实现一次性定位检测多个产品，有效提升了检测速度。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种集成电路测试分选机

当前第 / 件

一种电源模块的测试装置及方法

同领域国内专利 · IPC: (B23K26_362)

B23K26_00 B23K26_02 B23K26_03 B23K26_035 B23K26_04 B23K26_046 B23K26_06 B23K26_0622 B23K26_064 B23K26_073 B23K26_08 B23K26_082 B23K26_10 B23K26_12 B23K26_14 B23K26_142 B23K26_146 B23K26_16 B23K26_18 B23K26_21 B23K26_22 B23K26_24 B23K26_26 B23K26_28 B23K26_282 B23K26_323 B23K26_34 B23K26_342 B23K26_346 B23K26_348 B23K26_352 B23K26_354 B23K26_356 B23K26_359 B23K26_36 B23K26_361 B23K26_362 B23K26_364 B23K26_38 B23K26_382 B23K26_384 B23K26_40 B23K26_402 B23K26_60 B23K26_70 覆盖45个领域

议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：47 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

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