本实用新型公开了一种高阻燃高耐热集成电路板加工用测试装置，包括基座，所述基座的上表面固定连接有支撑架、检测台和显示器，所述支撑架的顶部设置有气缸的伸缩端穿过支撑架的顶部固定连接有检测压板，所述检测台的内部呈中空设置，所述检测台的内底壁中部位置转动连接有转动杆，所述检测台的内底壁有控制器和支撑台，所述支撑台的上表面固定连接有电机，所述电机的驱动端固定连接有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮的外表面固定套接有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮与第二锥齿轮啮合连接。本实用新型便于对电路板进行连续的检测，使操作人员能够将拿取与放置电路板的时间与电路板检测同步进行，缩短了操作时间，提高了检测效率。
📄 2020222201812
📂 G01R31_28
👤 江苏艾德琳科技有限公司
📅 2020-09-30
已申报项目
本实用新型公开了一种集成电路测试基座，涉及集成电路技术领域，包括包括固定安装在底座的顶部的固定杆，所述固定杆上活动套设有转动管，且所述转动管与所述底座转动连接，所述固定杆的顶部固定安装有横板，所述横板的底部固定安装有两个电动推杆，两个所述电动推杆的输出轴上固定安装有衔接板，所述衔接板的底部固定安装有测试板，所述转动管上固定安装有四个固定板，四个所述固定板的一侧分别固定安装有矩形框板，四个所述矩形框板的一侧内壁上分别固定安装有固定L形放置板，四个所述矩形框板内分别设置有移动L形放置板，四个所述移动L形放置板的一侧外壁上分别固定安装有滑动杆。
📄 2024212281217
📂 G01R31_26
👤 深圳市旺年华电子有限公司
📅 2024-05-31
已申报项目
本发明公开了一种集成电路测试载板，包括载板；载板的底端面上形成倒金字塔状的散热结构；载板保护面板，贴覆在载板上端面对载板形成面板保护；测试调整装置，测试调整装置包括在横向调节过程中的能够填补电路板与载板之间间隙的横向调节机构和用于测试时调节探针对电路板压紧度的压紧机构；通过调节测试调整装置能够对不同规格的电路板压紧固定，实现测试时的稳定和精度。大大增加了散热面积和传热通道，提高了传热效率；在测试过程中实现良好的导热作用。
📄 2020115597839
📂 G01R31_28
👤 江西龙芯微科技有限公司
📅 2020-12-25
本实用新型公开了一种芯片自动化测试装置，包括底座，所述底座的一侧内壁中部固定连接有电动机，且底座的另一侧中部开设有圆形开口，所述电动机的输出轴固定连接有第一转动杆，所述第一转动杆在圆形开口处延伸至底座的外部，所述底座的两侧内壁之间的两侧分别转动连接有第二转动杆和第三转动杆。本实用新型通过设置电动机，电动机驱动第一转动杆带动第一皮带轮转动，第一皮带轮通过皮带使得第二转动杆转动，第二转动杆带动转动辊转动即可使得传送带运行，从而在进行芯片测试时可以利用不断运行的传送带来输送芯片，使得芯片的测试称为流水线工序，提高了芯片测试的效率，让测试过程更为方便和简单。
📄 2021215914453
📂 G01R31_28
👤 深圳市凯创芯科技有限公司
📅 2021-07-14
本发明公开了一种检测芯片短路位置的方法和装置以及系统，所述检测芯片短路位置的方法，包括：对芯片模组的输出端子所在回路供电，以在所述回路的短路位置形成短路标记，其中，所述短路标记为所述芯片模组短路位置的输出端子处填充物受热黑化形成；将形成短路标记的芯片模组进行分离处理，以获得所述芯片模组中的芯片单元；获取所述芯片单元分离面的图像信息，并根据所述图像信息识别所述短路标记，以及所述短路标记所在位置确定为所述芯片单元的短路位置。该方法可以对芯片模组的短路位置进行标记，利于实现对短路位置的精确检测。
📄 202010090080X
📂 G01R31_28
👤 珠海得尔塔科技有限公司
📅 2020-02-13
本实用新型涉及集成电路老化测试技术领域，且公开了一种集成电路高温动态老化装置，包括箱体，所述箱体的内部下侧固定设置有隔板，所述隔板的上表面对称设置有两个丝杆，每个所述丝杆的两端杆壁分别通过第一轴承与隔板的上表面以及箱体的内部上表面转动连接，每个所述丝杆的杆壁均螺纹连接有三个第一滑块，位于同一水平线上的两个第一滑块之间共同固定设置有环形电加热管，所述箱体的上表面右侧固定设置有电机，右侧所述丝杆的上端贯穿箱体并向外延伸，且与电机的输出端固定连接，两个所述丝杆之间通过传动机构传动连接。本实用新型实现了对电加热管的位置调节，便于将测试板取出对集成电路板进行拆卸。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
📄 2020230870758
📂 G01R31_28
👤 陕西博智鸿林信息科技有限公司
📅 2020-12-21
本发明提出了一种基于集成电路芯片的稳定性测试方法和系统。所述稳定性测试方法包括：获取集成电路芯片的两个数值不同的第一基准被测信号和两个数值不同的第二基准被测信号；对两个数值不同的第一基准被测信号和第二基准被测信号进行测试分析获取所述集成电路芯片对应的shmoo图；通过不断调整所述集成电路芯片的运行输入条件参数，获得变化的运行输入条件参数和对应的输出参数信号，将运行输入条件参数和对应的输出参数信号分别作为第一监控信号组和第二监控信号组；实时分析第一监控信号组和第二监控信号组，并实时获取第二监控信号组的信号位点在shmoo图上的位置是否处于正常工作区域。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。
📄 2022100011091
📂 G01R31_28
👤 深圳凯瑞通电子有限公司
📅 2022-01-04
本实用新型涉及电压测试技术领域，具体公开了一种集成电路节点直流电压模拟测试装置，包括：机体；测试器，所述测试器安装在机体的外部；遮挡机构，所述遮挡机构设置在测试器的外侧壁上；插设机构，所述插设机构安装在测试器的外部；本实用新型通过设置的连接板、插设座、插设槽和遮挡机构使得当在进行电压的检测操作时，首先将电源线缆插设在插设槽的内部后，通过转动抵合座的转动操作，能够将转动抵合座在插设座的外部对线缆进行夹持抵合固定，随后通过拉伸板在伸缩槽内部的滑动伸缩，能够使拉伸板在进行闭合后能够对插设机构的连接处进行遮挡，从而防止操作人员对电极的误触。
📄 2023221776197
📂 G01R19_00
👤 南京信息工程大学
📅 2023-08-14
本发明公开了一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法，具体步骤如下：步骤1，利用EDA工具对目标系统进行静态时序分析，确定关键路径；步骤2，将步骤1确定的关键路径进行复制，得到复制的时序路径；步骤3，将经步骤2复制得到的时序路径进行信号钳位；步骤4，将步骤3中进行信号钳位后的时序路径进行高低频率测试；本发明主要用来测试电路的最高工作频率，在电路调节为不同频率的工作模式下，通过检查复制时序电路输入信号上升沿和延迟相位检查信号下降沿的相位差与时钟周期的关系，便能得出电路的临界工作频率。
📄 2019104403875
📂 G06F30_3315
👤 西安理工大学
📅 2019-05-24
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