发明专利 已授权

一种复原式自监督疵点检测方法、装置及存储介质

📄 申请号:CN202310531299.2 📄 发布日:2026/08/18

著录项目信息

申请日
2023-05-12
公开号
CN116563250B
公开日
2025-11-07
申请人
南京信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业质检, 智能制造, 表面缺陷检测, 机器视觉, 质量检测

摘要

本发明公开了一种复原式自监督疵点检测方法、装置及存储介质,包括获取无疵点图片;无疵点图片可选择添加或不添加伪异常;若添加伪异常,则可在无疵点图片中选择连续区域进行掩码,或随机裁剪任意区域并对区域内像素进行随机调整,也可同时选择这两种伪异常生成方法,得到生成的伪异常图片和异常标注图;将伪异常图片输入预先训练好的先验初定位模块,初步定位疵点区域,并对疵点区域进行掩码,得到掩码后的图片;将掩码后的图片送入预先训练好的疵点检测模块,得到预测的异常标注图;根据标注图的异常分数进行异常判断与定位;本发明可以预判断疵点区域进行掩码,保证图像复原期间模型不会学习疵点区域的信息,从而降低算法的漏检率。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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