实用新型 已授权

一种用于半导体引线框架的自动化检测设备

📄 申请号:CN202223539800.X 📄 发布日:2026/11/05

著录项目信息

申请日
2022-12-29
公开号
CN219418956U
公开日
2023-07-25
申请人
安丘市德丰电子有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体制造, 引线框架检测, 封装测试, 工业自动化, 质量检测

摘要

本实用新型公开了一种用于半导体引线框架的自动化检测设备,包括检测箱,检测箱的正面活动连接有旋转结构,旋转结构的一侧固定连接有取料机构,检测箱的顶部安装有减速机和控制面板,减速机的顶部安装有动力机构,减速机的底部活动穿插有电机转轴,本实用新型通过设置的箱门、固定板、固定板滑槽和碎屑收集盒,解决了现有的用于半导体引线框架的自动化检测设备,在切割时产生的碎屑需要花费大量的时间进行取出碎屑,从而导致工作效率低,且现有的用于半导体引线框架的自动化检测设备在更换引线框架时操作繁琐,还对引线框架的固定造成影响,从而存在检测数据不准确的问题,为此我们提出一种用于半导体引线框架的自动化检测设备的问题。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN219418956U

购买这项专利需要经过哪些流程?

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该专利的转让价格是多少?

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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议价
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