发明专利 已授权

基于非负性约束稀疏自编码器的电子电路缺陷检测方法

📄 申请号:CN202211408638.X 📄 发布日:2026/10/28

著录项目信息

申请日
2022-11-10
公开号
CN115829942B
公开日
2026-01-09
申请人
淮安大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业自动化, 智能制造, 电子制造, 电路板检测, 质量控制

摘要

本发明公开了一种基于非负性约束稀疏自编码器的电子电路缺陷检测方法,包括:对电子电路图像采集、剪裁,图像数据增强及特征提取,确定缺陷数据集及缺陷类型。基于组的图模型及核规范的图像去噪方法对电子电路图像的去噪,通过优化学习策略来获得图像的拉普拉斯图矩阵,利用其封装图结构。提出非负性约束稀疏自编码器的深度学习模型,并将其用于缺陷区域的提取中。利用训练成功的自编码器模型预测出电路图像,并将该预测图像减去原始缺陷输入图像,生成缺陷检测图,设置适当阈值获得分类正确的缺陷类型。与现有技术相比,本发明可以有效地检测缺陷颜色变化较大的电子电路真缺陷以及颜色变化较小的伪缺陷,提高电子电路缺陷识别的可靠性和精度。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:10 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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