发明专利 已授权

基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法

📄 申请号:CN202411023745.X 📄 发布日:2026/08/25

著录项目信息

申请日
2024-07-29
公开号
CN119151860B
公开日
2025-10-17
申请人
西安理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业质检, 智能制造, 表面缺陷检测, 产品质量检测, 自动化视觉检测

摘要

本发明公开的基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法,包括以下步骤:1.构建工业品的正样本图像数据集和缺陷样本图像数据集;2.构建去背景模块,对参考图像和待配准图像去背景;3.构建图像旋转粗配准模块,对第一待配准图像进行旋转至与第一参考图像对齐;4.构建双分支特征级精配准模块,求解特征图c的均值及方差,作为工业品的模板特征;5.求解同一工业品缺陷样本图像的特征图d和异常分数矩阵;6.建立自适应缺陷阈值分割网络,得到缺陷分割图像。本发明实现了在小样本场景下检测精度和模型通用性之间更好的平衡。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:2 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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