发明专利已授权

一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法

📄 申请号：CN202211722655.0 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2022-12-30

公开号

CN115908399B

公开日

2025-10-03

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06V10_82 , G06V10_22 , G06V10_80 , G06V10_52 , G06V10_26 , G06V10_28 , G06V10_34 , G06V10_44 ,

技术画像

所属领域

图像识别图像识别自动控制系统质量检测

应用场景

工业自动化, 智能制造, 磁片生产, 表面缺陷检测, 质量检测

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摘要

本发明公开一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法，包括如下步骤：获取待检测磁片图像，进行预处理；提取图像的亮度、朝向、边缘初级特征：基于亮度、朝向、边缘特征图像进行多尺度采样，构建多尺度金字塔；采取中央—周边差采样方式获取亮度、朝向、边缘特征对比映射图；基于亮度、朝向、边缘特征对比映射图归一化处理后合并为子显著图；基于亮度、朝向、边缘子显著图构建亮度、朝向、边缘显著图；基于亮度、朝向、边缘显著图归一化操作，线性相加得全局总显著图；基于全局总显著图检测磁片瑕疵区域。本发明提出了一种基于亮度、朝向、边缘三特征获取磁片瑕疵区域的方法，相较于传统ITTI算法对低对比度瑕疵目标检测适应性更高。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种碳基过渡金属氧化物电极材料及其制备方法和应用

当前第 / 件

一种基于多任务深度学习的修正局部敏感哈希车辆检索方法

同领域国内专利 · IPC: (G06T7_00)

G06T7_00 G06T7_10 G06T7_11 G06T7_12 G06T7_13 G06T7_136 G06T7_143 G06T7_149 G06T7_155 G06T7_168 G06T7_174 G06T7_181 G06T7_187 G06T7_194 G06T7_20 G06T7_207 G06T7_215 G06T7_223 G06T7_246 G06T7_254 G06T7_269 G06T7_277 G06T7_292 G06T7_30 G06T7_32 G06T7_33 G06T7_37 G06T7_38 G06T7_40 G06T7_41 G06T7_44 G06T7_45 G06T7_49 G06T7_50 G06T7_507 G06T7_514 G06T7_521 G06T7_55 G06T7_557 G06T7_564 G06T7_579 G06T7_593 G06T7_60 G06T7_62 G06T7_64 G06T7_66 G06T7_68 G06T7_70 G06T7_73 G06T7_77 G06T7_80 G06T7_90 覆盖52个领域

议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：17 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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