发明专利已授权

一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法

📄 申请号：CN202310966102.8 📄 发布日：2026/07/27

著录项目信息

申请日

2023-08-02

公开号

CN116862904B

公开日

2026-03-03

申请人

湖北经济学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T5_70 , G06T7_62 , G06T5_20 , G06T7_13 ,

技术画像

所属领域

显示面板图像处理缺陷检测显示技术显示面板

应用场景

显示面板制造, 质量控制, 工业视觉检测

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摘要

本发明公开了一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法，本发明克服了人工检测面板Mura缺陷的弊端，使最终Mura缺陷量化评估不受人为主观认定因素的影响，显著提升显示面板质量检测的效率和准确性，尤其是相比之前评估方法，本发明方法可兼顾相机多角度拍摄的图像进行显示模板Mura缺陷评估，可同时对亮度和色度Mura缺陷的进行量化评估，并且采用图像掩膜处理方法避免面板边缘Mura缺陷的漏检测，本方法并非只针对最显著的Mura缺陷进行检测评估，而是从全局上根据所有能观测到的缺陷强度赋予不同的权重进行综合评价，从而提高了显示面板Mura缺陷评估的准确率和可信度。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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