摘要
本发明公开了一种基于双目视觉的多类型芯片引脚定位方法及相关装置,应用于静电放电测试中探针与芯片引脚的对齐,所述方法包括:获取CDM放电测试中待测芯片的双目视觉图像;将待测芯片的双目视觉图像输入预先训练的芯片识别模型,得到芯片识别结果;根据芯片封装类型对芯片轮廓进行图像处理,得到芯片引脚轮廓并获取引脚中心点;基于双目视觉图像中同一引脚中心点之间的距离,得到对应引脚中心点的三维坐标;其中,所述芯片识别模型通过对YOLOv8n模型进行改进得到,改进方法包括:使用FasterBlock替换YOLOv8n模型中C2f模块的Bottleneck结构,实现了精确且无人参与的芯片引脚定位。