发明专利 已授权

曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质

📄 申请号:CN201910411267.2 📄 发布日:2026/07/15

著录项目信息

申请日
2019-05-16
公开号
CN110211174B
公开日
2023-07-18
申请人
武汉工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

精密测量, 智能制造, 质量检测, 汽车制造, 航空航天制造

摘要

本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质,将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中,根据位置关系通过两次标定,得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示,构建计算公式,通过内点法优化算法,进行精标定计算,得到精确的Q、U、C,确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明,能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:21 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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