发明专利 已授权

一种基于成像高光谱分析的水稻纹枯病病斑提取方法

📄 申请号:CN201910445932.X 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2019-05-27
公开号
CN110211147A
公开日
2019-09-06
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

水稻病害监测, 植物病害诊断, 精准农业, 作物表型分析, 农业遥感

摘要

本发明公开了一种基于成像高光谱分析的水稻纹枯病病斑提取方法。传统的病害表型测量与调查主要依靠人工,劳动量大,效率低。本发明的步骤如下:1、用成像光谱仪拍摄目标作物,得到成像高光谱数据。2、去除步骤1所得成像高光谱数据中的非植物背景。3、在666nm和494nm波段反射率下对步骤2所得的成像高光谱数据中的水稻叶片茎杆与异常区域进行分类。4、基于病斑扫描的非病斑异常区域去除。本发明独创的图像识别方法,能够识别对茎杆上的纹枯病病斑,克服了现有技术中仅能高效提取叶部病斑的缺陷。本发明能够对图像中的病斑和枯叶进行区别,以达到较高的识别精度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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