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摘 要:本发明公开了一种融合前景紧凑特性和多环境信息的绝缘子缺陷检测方法,首先对采集的原始绝缘子图像用超像素特征描述指定区域位置的特征信息,然后采用模块化方法提取得到绝缘子粗略显著区域,同时剔除绝缘子粗略显著区域部分背景噪声,最后采用特征紧凑性衡量绝缘子图像中各区域特征的显著性,进而得到绝缘子各区域显著特征图像;然后得到整个绝缘子的显著特征区域图像及整个绝缘子准确的显著特征图像;快速检测出绝缘子是否有缺陷。本发明解决了现有技术中存在的复杂环境下绝缘子检测精度低的问题。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010102979.9 | 专利名称: | 融合前景紧凑特性和多环境信息的绝缘子缺陷检测方法 |
申请日: | 2020-02-19 | 申请/专利权人 | 西安工程大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路19号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 电力搜索 |
公开/公告日: | 2023-04-07 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN111583171B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |