发明专利 已授权

一种纳米线数量统计方法及系统

📄 申请号:CN202010294470.9 📄 发布日:2026/07/31

著录项目信息

申请日
2020-04-15
公开号
CN111507956B
公开日
2023-04-07
申请人
合肥九州龙腾科技成果转化有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

纳米材料表征, 半导体检测, 电子显微镜图像分析, 材料科学研究

摘要

本发明提供了一种纳米线数量统计方法及系统。该方法包括:获取待统计的纳米线图像;对纳米线图像进行预处理,得到预处理后的图像;对预处理后的图像进行细化,提取纳米线骨架,得到细化后的纳米线图像;统计细化后的纳米线图像中的端点数量和孤立点数量;识别细化后的纳米线图像中的节点;将节点连通距离小于预设阈值的两个节点合并,将合并处理后的所有节点均标记为合并后节点;在合并后节点中识别邻域包含奇数个前景点的节点,得到奇连接合并后节点的数量;利用端点数量、孤立点数量以及奇连接合并后节点的数量计算纳米线的数量。本发明能够避免大量多余短线的产生,提高纳米线数量统计的准确性。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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……

图1
图2
图3

法律状态时间线

20231024
?? 专利权的转移 :
20230407
✅ 授权
20200901
?? 实质审查的生效 :
20200807
📄 公开
¥12900.0
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:10 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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