发明专利 已授权

基于LED阵列位置误差快速校正的傅里叶叠层成像系统及方法

📄 申请号:CN202110510354.0 📄 发布日:2026/10/10

著录项目信息

申请日
2021-05-11
公开号
CN113160212B
公开日
2024-04-16
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

生物医学成像, 数字病理, 显微镜成像, 材料显微分析, 工业无损检测

摘要

本发明属于光学成像领域,公开了一种基于LED阵列位置误差快速校正的傅里叶叠层成像系统及方法。包括1、搭建傅里叶显微成像系统;2、每次点亮n颗LED,从LED阵列最中心开始,逆时针螺旋遍历,直到点亮所有LED。每次点亮LED时,对每颗LED在规定的八个不同的方向上进行随机的位移,求出代价函数,取最小代价函数对应的位移量,进而更新光瞳函数和样品函数,再点亮下一组LED,进行下一次循环,直到点亮完所有LED,减少频移量的步长,继续大循环数次。3、计算重建图像。系统经过点亮多颗LED,在快速重建图像的同时快速了LED阵列位置的误差校正,提高了FPM重建恢复图像的速度和LED阵列误差校正的速度。

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这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN113160212B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

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