发明专利 已授权

一种FPGA中线结构光条纹中心提取方法及装置

📄 申请号:CN202210572013.0 📄 发布日:2026/08/26

著录项目信息

申请日
2022-05-25
公开号
CN114943761A
公开日
2022-08-26
申请人
南京邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业检测, 三维测量, 机器视觉, 在线尺寸测量

摘要

本发明公开一种FPGA中线结构光条纹中心提取方法及装置。方法包括:对图像数据进行缓存,获取到图像中相邻行列的像素点;利用缓存数据和高斯核参数对图像进行二维高斯滤波,获取滤波后的激光条纹图像;通过求解图像中每一个像素的二阶偏导数构建Hessian矩阵,获取每一个像素的法向量;利用一阶导数过零点、二阶导数取得极小值的像素点为中心点的判断条件,筛选出满足条件的线结构光条纹中心点。本发明能够保证单像素中心点提取的精度和稳定性,并提高线结构光条纹中心点的提取速度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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