发明专利 已授权

高噪声透射电子显微镜欠焦序列图像的配准方法和装置

📄 申请号:CN202510507267.8 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2025-04-22
公开号
CN120047507B
公开日
2025-08-26
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

透射电子显微镜图像处理, 材料科学显微分析, 生命科学显微成像, 半导体缺陷检测, 科学图像分析

摘要

本发明公开了高噪声透射电子显微镜欠焦序列图像的配准方法和装置,其方法包括:利用频域调制与信息熵优化的协同作用,具体为通过傅里叶变换提取结构信号的振幅信息,结合多类型频域调制函数,在频域内实现噪声谱能量抑制与有效信号频带增强;再基于频域调制后图像进行互信息计算,利用频域信号统计分布的非线性关联性,克服传统强度匹配对噪声敏感的缺陷,从而驱动鲁棒配准。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

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