发明专利 已授权

一种基于深度学习的电子元器件外观不良品的检测方法

📄 申请号:CN201910933616.7 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2019-09-29
公开号
CN110766664A
公开日
2020-02-07
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电子元器件生产质检, 工业外观缺陷检测, 自动化光学检测, 智能制造, 电子制造质量控制

摘要

本发明公开了一种基于深度学习技术的电子元器件外观不良品的自动检测方法。该方法包括:数据集收集与标记;对数据集的图像进行数据增强;构建一个简单高效的卷积神经网络模型;将数据集样本图片输入到上述卷积神经网络模型中进行迭代训练,获得最佳检测模型;将采集得到的图像输入到深度学习检测模型中进行图像类别的识别;将深度学习检测模型识别的不良品进行生产线上的自动剔除,从而提高产品品质。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN110766664A

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该专利的转让价格是多少?

当前标价为议价,可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:59 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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