发明专利已授权

一种基于SIFT特征匹配和改进SSD算法的印刷缺陷检测方法

Name: 一种基于SIFT特征匹配和改进SSD算法的印刷缺陷检测方法
Brand: 江苏理工学院
SKU: 2019113229187
Availability: InStock

📄 申请号：CN201911322918.7 📄 发布日：2026/06/30

著录项目信息

申请日

2019-12-20

公开号

CN111127417B

公开日

2024-02-06

申请人

江苏理工学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T5_70 ,

技术画像

所属领域

缺陷检测图像识别目标检测计算机视觉缺陷检测

应用场景

印刷质量检测, 工业自动化, 智能制造, 产品质量检测

AI 智能推荐 · 同申请人专利 · 搜索相似专利

摘要

一种基于SIFT特征匹配和改进的SSD算法的软包装卷料印刷缺陷检测方法，将传统视觉缺陷检测方法和深度学习检测方法相结合，即弥补了传统视觉缺陷检测方法对图像角度和光照的不足，也将新技术引入到软包装检测领域，在保障检测时间的前提下，提高了检测的准确性。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN111127417B

购买这项专利需要经过哪些流程？

平台提供担保交易、全程代办转让手续。买家可委托平台代购，平台协助完成权属尽调、合同签署、国家知识产权局著录项目变更等流程。

该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20240206

✅ 授权

20200602

?? 实质审查的生效：

20200508

📄 公开

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