发明专利已授权

一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法

📄 申请号：CN202411159492.9 📄 发布日：2026/06/05

著录项目信息

申请日

2024-08-22

公开号

CN119090831A

公开日

2024-12-06

申请人

安庆师范大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06V10_40 , G06V10_75 ,

技术画像

所属领域

图像质量评价图像质量评价光场成像计算机视觉

应用场景

光场图像处理, 虚拟现实, 三维显示, 图像质量评估, 计算摄影

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摘要

本发明涉及一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法，包括：获取若干不同大小的子孔径图像阵列，从子孔径图像阵列中分别选取若干张子孔径图像并进行处理，获取原始和失真视点图像堆栈Y通道信息；将原始和失真视点图像堆栈Y通道信息进行特征提取，获取完整原始图像堆栈特征和完整失真图像堆栈特征，并获取对比特征；对完整原始图像堆栈特征、完整失真图像堆栈特征和对比特征进行图像注意信息提取；将图像注意信息的维度进行重新排列后，提取光场图像特征；基于光场图像特征，获取最终特征向量信息，并基于最终特征向量信息获取最终质量分数。本发明提升了全参考光场图像质量评价质量。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20250411

✅ 授权

20241224

?? 实质审查的生效：

20241206

📄 公开

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