发明专利 已授权

一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备

📄 申请号:CN202411646211.2 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2024-11-18
公开号
CN119831925B
公开日
2025-10-17
申请人
燕山大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

所属领域

应用场景

航空航天, 高温结构部件, 无损检测, 质量评估

摘要

本发明提供一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备,该方法包括:对CT断层图像序列进行图像前景分割,得到复合材料构件的前景轮廓图像序列;基于前景轮廓图像序列对CT断层图像序列进行孔隙缺陷分割,得到孔隙缺陷图像序列;基于孔隙缺陷图像序列进行三维空间分块,并获取分块后得到的各区块的平均灰度值;将平均灰度值替换到前景图像序列中对应区块进行三维重建,完成对复合材料构件均匀性的可视化表征。本发明解决了现有技术中的材料均匀性表征方法误差较大,无法精确的对异形构件均匀性分布差异进行精确的量化表征的问题。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

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