发明专利 已授权

基于Transformer的缺陷检测方法和电子设备

📄 申请号:CN202210269203.5 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2022-03-18
公开号
CN114359283B
公开日
2022-07-05
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

工业质检, 表面缺陷检测, 智能制造, 自动化检测, 产品质量检测

摘要

本申请提供了一种基于Transformer的缺陷检测方法和电子设备,属于电子信息技术领域,能够有效捕捉全局上下文信息,减少无关信息的聚合,提升缺陷检测准确度。该方法中,检测模型包括分割网络和分类网络,分割网络中的编码器基于Transformer获得,解码器基于卷积神经网络获得。该方法包括:基于查询图像、支持图像及其分割图像,确定输入序列;将输入序列输入到分割网络的编码器,通过分割网络利用支持图像及第一分割图像,指导查询图像的分割,输出查询图像对应的第一特征图和第二分割图像;编码器包括多头注意力机制,用于捕获查询图像的全局上下文信息;分类网络用于输出查询图像对应的缺陷分类结果。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:50 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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