发明专利已授权

一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法

📄 申请号：CN201911182587.1 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-11-27

公开号

CN110992326B

公开日

2022-08-09

申请人

江苏理工学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T7_13 , G06V10_24 , G06V10_30 , G06V10_44 ,

技术画像

所属领域

图像处理图像处理机器视觉芯片引脚检测

应用场景

半导体封装检测, 芯片引脚检测, 电子元器件检测, 工业自动化, 机器视觉质检

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摘要

本发明公开一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法，包括以下步骤：(1)采集QFN芯片引脚图像，进行滤波、二值化处理；(2)利用多边形逼近方法提取芯片图像中心焊盘轮廓；(3)提出改进Harris角点检测算法，获取轮廓顶点；(4)利用最小二乘法对距离最远的顶点进行直线拟合，将直线作为角度识别方向；(5)以图像形心坐标为旋转中心，快速校正芯片引脚图像并去除白边。该校正方法为更快速、更准确地校正QFN芯片提供了一定的理论依据，提高了QFN封装缺陷视觉检测效率。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20220809

✅ 授权

20200505

?? 实质审查的生效：

20200410

📄 公开

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