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发明专利
已授权
一种光栅结构的硅基全硅表面吸收探测器及其制备方法
📄 申请号:CN202010997856.6
📄 发布日:2026/06/22
著录项目信息
申请日
2020-09-21
公开号
CN112201707A
公开日
2021-01-08
申请人
三明学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L31_0232
IPC 分类号
H01L31_0232
,
H01L31_0352
,
H01L31_105
,
H01L31_18
,
技术画像
所属领域
硅基光电子
硅基光电子
光探测器
光栅结构
应用场景
光通信, 光学传感, 光探测, 激光雷达, 光谱分析
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摘要
本发明提供一种光栅结构的硅基全硅表面吸收探测器,包括:衬底层,所述衬底层是SOI;硅光波导层,形成于所述衬底层上;光栅层,形成与所述衬底层上,并与所述硅光波导层耦合连接;其中,所述光栅层包括本征区以及位于所述本征区两侧的P型区和N型区;电极,包括阳极和阴极;其中,所述阳极设置于所述N型区,所述阴极设置于所述P型区。本发明通过表面光栅结构较直波导结构增加了表面区域,从而有效增加了吸收面积,进而提高了响应度;光栅结构形成谐振腔,使光能量较好的限制在光栅结构内部,被多次吸收。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20220624
✅ 授权
20210126
?? 实质审查的生效 :
20210108
📄 公开
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