发明专利已授权

磁瓦表面微缺陷视觉检测方法

Name: 磁瓦表面微缺陷视觉检测方法
Brand: 浙江理工大学
SKU: 2018100959990
Availability: InStock

📄 申请号：CN201810095999.0 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2018-01-31

公开号

CN108230324B

公开日

2023-10-20

申请人

浙江理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T7_11 , G06T7_136 , G06T7_62 , G06T7_155 , G06T7_13 , G06T7_64 ,

技术画像

所属领域

机器视觉检测机器视觉检测缺陷检测图像处理

应用场景

工业自动化, 质量控制, 磁瓦生产, 电机制造

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摘要

本发明提供一种磁瓦表面微缺陷视觉检测方法，读取磁瓦图像，检测磁瓦图像缺陷，获取磁瓦图像的缺陷区域K，判断缺陷区域K的面积是否大于设定值1；检测磁瓦图像缺陷，获取磁瓦图像的第二类缺陷效果图，判断第二类缺陷效果图的长度是否大于设定值2；检测磁瓦图像缺陷，获取磁瓦图像的边缘检测图像Q'连通域像素的圆度，判断边缘检测图像Q'连通域像素的圆度是否大于设定值3，三个判断过程可以判断磁瓦是否属于三种类型的缺陷，本发明磁瓦表面微缺陷视觉检测方法对光照变化、磁瓦类型变化适应性强；能对磁瓦的各种不同类型的缺陷都进行检测；本发明获得的磁瓦的缺陷图像比采用传统方法获得的磁瓦的缺陷图像更为清晰准确。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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