发明专利已授权

一种基于灰度共生矩阵的磁性材料外观缺陷检测方法

📄 申请号：CN201910313134.1 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-04-18

公开号

CN110189297B

公开日

2021-02-19

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T7_136 , G01N21_88 ,

技术画像

所属领域

外观缺陷检测图像识别缺陷检测纹理特征提取磁性材料外观缺陷检测

应用场景

工业质检, 磁性材料生产, 产品外观检测, 自动化检测

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摘要

本发明公开了一种基于灰度共生矩阵的磁性材料外观缺陷检测方法。传统人工质检不仅效率低，而且成本居高不下。本发明方法首先对磁性材料水平投影灰度图作二值化处理，计算得到磁性材料中心点定位，将源图像中的磁性材料区域平均分割成多个子区域，计算多个子区域的灰度共生矩阵，结合灰度共生矩阵的特征熵值，筛选出缺陷区域，从而实现磁性材料外观缺陷的检测。本发明方法可适用于多种磁性材料的外观缺陷检测，不仅能够解决企业实际生产过程中遇到的难题，也能弥补在该领域的技术空缺。本发明方法应用简单，检测较高效。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：20 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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