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发明专利
已授权
基于Ⅲ-Ⅴ族半导体高电子迁移率晶体管的日盲紫外探测器及制作方法
📄 申请号:CN201911259202.7
📄 发布日:2026/06/09
著录项目信息
申请日
2019-12-10
公开号
CN111106204A
公开日
2020-05-05
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L31_112
IPC 分类号
H01L31_112
,
H01L31_113
,
H01L31_101
,
H01L31_109
,
技术画像
所属领域
日盲紫外探测器
半导体器件
光电子器件
高电子迁移率晶体管
日盲紫外探测器
应用场景
紫外探测, 导弹预警, 火焰检测, 紫外通信, 环境监测
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摘要
本发明公开了一种基于Ⅲ-Ⅴ族半导体高电子迁移率晶体管的日盲紫外探测器及制作方法,探测器包括漏极、源极、第一半导体层、第二半导体层、位于第一和第二半导体界面处的二维电子气、衬底及缓冲层、TiO2悬浮栅极以及Ti金属层,其中,第一半导体层的下表面设置第二半导体层;第二半导体层的下方设置衬底及缓冲层;TiO2悬浮栅极位于第一半导体层的上表面,且处于所述源极和漏极之间;源极和漏极位于第一半导体层的上表面的两侧;源极和漏极与第一半导体形成欧姆接触;第一半导体层和第二半导体层之间形成异质结沟道,并由于极化作用产生高密度的二维电子气。本发明的紫外探测器具有高灵敏度的紫外探测性能,响应快、制作方法简单、稳定性好。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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