发明专利 已授权

一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统

📄 申请号:CN201811450031.1 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2018-11-30
公开号
CN109523599A
公开日
2019-03-26
申请人
燕山大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

材料科学, 纳米技术, 半导体检测, 晶体结构分析, 科研仪器

摘要

本发明公开一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统。该方法包括:获取从待分析材料的晶体方向采用透射电镜拍摄的高分辨原子图像;在高分辨原子图像中标记待分析材料的单晶胞和超晶胞;以同一原子作为起始点,将单晶胞和超晶胞叠加,得到叠加后的图像;确定晶向坐标系的横向坐标轴和纵向坐标轴;确定晶向坐标系的刻度点,得到标定后的晶向坐标系;将高分辨原子图像中待标定的矢量平移至标定后的晶向坐标系;根据待标定的矢量在标定后的晶向坐标系中横向坐标轴和纵向坐标轴的分量,获得待标定的矢量的晶向值。本发明操作过程简单易行,可快速测量出透射电镜高分辨原子像上的矢量值,且可测量高分辨原子像上任意矢量的晶向值。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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