发明专利 已授权

一种基于特征预融合与掩膜引导的表面缺陷检测方法

📄 申请号:CN202311034675.3 📄 发布日:2026/08/06

著录项目信息

申请日
2023-08-17
公开号
CN116805310B
公开日
2025-12-26
申请人
中南大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

工业质检, 产品表面缺陷检测, 智能制造, 自动化视觉检测

摘要

本发明公开了一种基于特征预融合与掩膜引导的表面缺陷检测方法,主要解决现有缺陷检测技术对弱区分度、小尺度缺陷检测结果准确率低的问题。其实施方案为:1)获取数据集与检测标签;2)构建缺陷检测模型;3)构建损失函数;4)训练缺陷检测模型;5)推理并获得检测结果。本发明构建的表面缺陷检测模型,通过特征预融合进行感受野的扩大与信息扩散,实现特征图内上下文的增强,有效提升了对弱区分度缺陷的检测准确率;通过多阶段特征融合引入缺陷边界框的掩膜标签,使得缺陷区域信息密度升高,提升了小尺度缺陷的检测准确率。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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