发明专利 已授权

一种基于物理尺寸匹配的电子元器件计数方法

📄 申请号:CN202210852769.0 📄 发布日:2026/06/26

著录项目信息

申请日
2022-07-19
公开号
CN115239662B
公开日
2025-04-22
申请人
珠海维胜科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

电子元器件制造, SMT贴片生产, 物料计数, 自动化质检, 智能仓储

摘要

本发明公开了一种基于物理尺寸匹配的电子元器件计数方法,涉及电子元器件计数技术领域。本发明利用SURF算法对物料进行计数,采用双目相机对物料拍摄,用SURF算法对物料图像进行拼接,对物料的轮廓进行提取,计算出物料的尺寸并且将其保存;双目相机对与初次不同数量的物料进行拍摄,利用SURF算法对物料的图像进行拼接,轮廓提取以及图像分割,再次计算物料的尺寸,将第一次保存的物料尺寸与之匹配得到物料个数用灰色模型判断基于物理尺寸匹配方法所得结果是否稳定,若结果不稳定,重新将初次不同数量的物料震散后用SURF算法计算物料尺寸与第一次保存的物料尺寸进行匹配。若结果稳定尺寸匹配直至个数稳定后停止重复匹配。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN115239662B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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