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发明专利
已授权
砷化镓量子环红外光电探测器及其制造方法
📄 申请号:CN201310322211.2
📄 发布日:2025/12/10
著录项目信息
申请日
2013-07-30
公开号
CN103367481B
公开日
2016-01-06
申请人
电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L31_0352
IPC 分类号
H01L31_0352
,
H01L31_0304
,
H01L31_18
,
技术画像
所属领域
红外光电探测器
红外光电探测器
半导体量子结构
光电子器件
应用场景
红外成像, 光通信, 环境监测, 安防监控, 军事探测
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摘要
本发明公开了一种砷化镓量子环红外光电探测器及其制造方案,属于红外光电探测器领域。砷化镓量子环红外光电探测器,包括衬底层(1)、生长在衬底层(1)上的砷化镓缓冲层(2),还包括在砷化镓缓冲层(2)上依次生长的砷化镓接触层(3)、砷化镓铝底部间隔层(4)、量子环结构层(5);所述量子环结构层(5)至少有2层,层叠在一起。本发明通过使器件在外延生长过程中在砷化镓铝势垒材料中生长出三维结构的砷化镓量子环,避免了晶格失配应力,从而可以通过增加量子结构的叠层数来提高探测器有源区的光吸收,增加红外光电探测器的探测效率。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种基于光电探测器的浊度测试系统的构建方法
当前第 / 件
利用MXene-GaN肖特基结的MSM多量子阱光电探测器及其制备方法
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