发明专利已授权

一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

Name: 一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
Brand: 电子科技大学中山学院
SKU: 2022103576582
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210357658.2 📄 发布日：2025/11/23

著录项目信息

申请日

2022-04-06

公开号

CN114972174A

公开日

2022-08-30

申请人

电子科技大学中山学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T7_70 , G06N3_04 , G06N3_08 , G06V10_774 , G06V10_764 , G06V10_82 ,

技术画像

所属领域

缺陷检测缺陷检测机器视觉图像识别

应用场景

工业自动化, 智能制造, 产品质量检测, 表面缺陷检测, 电子制造

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摘要

本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，用于改善对物品包装上的缺陷进行检测的准确率较低的问题。该方法包括：获取待检测图像，待检测图像是对目标物品包装进行拍摄获得的；使用缺陷检测模型对待检测图像进行缺陷检测，获得缺陷检测结果，缺陷检测模型是使用样本图像、样本标签和样本图像对应的主动轮廓图训练获得的，样本标签表征样本图像的类别是有缺陷图像或者无缺陷图像，有缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓和缺陷中心位置的图像，无缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓的图像。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN114972174A

购买这项专利需要经过哪些流程？

平台提供担保交易、全程代办转让手续。买家可委托平台代购，平台协助完成权属尽调、合同签署、国家知识产权局著录项目变更等流程。

该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

基于区块链的多关键字可搜索加密方法

当前第 / 件

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