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发明专利
已授权
散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质
📄 申请号:CN202210475190.7
📄 发布日:2026/08/18
著录项目信息
申请日
2022-04-29
公开号
CN115049716A
公开日
2022-09-13
申请人
武汉工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G06T7_50
IPC 分类号
G06T7_50
,
H04N5_232
,
技术画像
所属领域
其他分类
其他
应用场景
3D视觉感知, 智能成像设备, 工业机器视觉, 自动驾驶感知, 消费电子拍摄
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摘要
本发明涉及散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质,属于计算机视觉三维空间测量领域。本发明利用焦叠相机的相机参数和散焦图像确定辐射度与深度信息的关联关系,并将该关联关系引入第一目标函数,通过最小化第一目标函数对场景的深度信息进行估计,能够降低辐射度对深度信息测量过程的影响,从而提高散焦深度测量方法的准确性。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
柔性液晶微透镜阵列、制备方法和三维光学防伪测试方法
当前第 / 件
基于液晶D型光学元件的高清光场成像方法
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📋 交易方式:
委托待转让
📌 交易状态:
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📋 项目申报:
未申报
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