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发明专利
已授权
一种消除负阻效应的RC-IGBT器件结构
📄 申请号:CN202010023986.X
📄 发布日:2026/07/23
著录项目信息
申请日
2020-01-09
公开号
CN111211167B
公开日
2022-04-01
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L29_739
IPC 分类号
H01L29_739
,
H01L29_06
,
H01L21_331
,
技术画像
所属领域
功率半导体器件
功率半导体器件
绝缘栅双极晶体管
半导体器件结构
应用场景
电力电子, 新能源发电, 电动汽车, 轨道交通, 工业控制
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摘要
本发明提供了一种消除负阻效应的RC‑IGBT器件。该RC‑IGBT器件与传统器件相比,在N型集电区和P型集电区上方有混合交替排列的N型和P+型缓冲层,且最靠近N型集电区的P+柱边缘超过N型缓冲层。由于上述混合交替排列N型和P型的缓冲层对场截止区的多区段的隔离作用,电子或空穴需要爬过多个P型区域,增长了载流子运动路径,从而增大了RC‑IGBT器件在导通初期N型集电区上方电势差,使得该PN结更容易开启,器件更容易从单极导通转换为双极导通,进而抑制了RC‑IGBT器件在导通初期所产生的Snapback效应。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种非级联的永磁同步电动机无差拍预测控制方法
当前第 / 件
一种适用于无人机的反向散射安全通信方法
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