发明专利 已授权

一种梳状栅纵向沟道SOILDMOS单元

📄 申请号:CN201410005377.6 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2014-01-02
公开号
CN103762241A
公开日
2014-04-30
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电源管理, 射频通信, 电力电子, 汽车电子, 工业自动化

摘要

本发明涉及一种梳状栅纵向沟道SOI?LDMOS单元。常规SOI?LDMOS导通沟道宽度小,通态电流小,通态线性电阻大,输出电流能力弱。本发明包括半导体衬底、隐埋氧化层、漂移区、阱区、阱接触区、源区、横向梳状纵向栅、横向梳状纵向栅介质层、缓冲区、漏极与漏极接触区、场氧区、多晶硅栅极区、接触孔和金属电极引线。本发明由于将集成纵向沟道SOI?LDMOS的栅改进为横向梳状纵向栅结构,增加了器件导通态的比沟道宽度,一方面减小了器件沟道电阻,增大了通态电子流注入,凭借电导调制效应减小漂移区通态电阻,从而降低通态压降和功耗;另一方面则提高了器件的输出电流能力。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图2
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