发明专利 已授权

基于深度学习的二维角度依赖误差下的一维线阵测向方法

📄 申请号:CN202010903250.1 📄 发布日:2026/07/22

著录项目信息

申请日
2020-09-01
公开号
CN112255625B
公开日
2023-09-22
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电子对抗, 雷达探测, 无线通信, 无线电监测, 导航定位

摘要

本发明公开了基于深度学习的二维角度依赖误差下的一维线阵测向方法。该方法基于深度学习擅长近似复杂非线性函数的特点,通过机器学习解决二维角度依赖型阵列误差校准问题。为了能够同时处理阵列误差的方位角依赖和俯仰角依赖,进行二维采集数据,即在不同的俯仰角下采集不同的方位阵列导向矢量。采用局部阵列流型插值对测量数据进行扩充,以减小深度学习模型过拟合风险;在最低信噪比的数据上进行深度学习使其适应带噪信号。本发明用于提高二维角度依赖型阵列误差的一维线阵测向的精度,减小残余阵列误差,同时校正了阵列误差对方位角和俯仰角的依赖,使得测向方法能在不同俯仰角上仍有好的性能。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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