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发明专利
已授权
综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计
📄 申请号：CN201710820901.9
📄 发布日：2026/07/28
著录项目信息
申请日
2017-09-13
公开号
CN107797110B
公开日
2020-11-10
申请人
南京邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01S13_90
IPC 分类号
G01S13_90
,
G01S7_03
,
技术画像
所属领域
综合孔径成像
综合孔径成像
微波辐射测量
信号处理
应用场景
遥感观测, 地球科学, 大气探测, 环境监测, 目标探测
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摘要
本发明公开了综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计，本发明方法以一维线性稀疏阵列作为辐射计的探测扫描阵，将其固定于圆周扫描平台上按固定步进角度对目标场景进行旋转扫描，实现对二维场景的1D投影图像的旋转探测；然后，根据阵列探测角对测得的1D投影图像进行排列，形成角度‑方位图；最后借助余弦匹配算法从角度‑方位图中提出目标场景的亮温图像。本综合孔径投影辐射计能实现本发明方法。本发明以极少的天线阵元数实现了较高精度的二维综合孔径成像，有效降低了综合孔径辐射计系统的成本及结构复杂度，大大拓宽了综合孔径辐射计的实际应用场景。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
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