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发明专利
已授权
液相法生长碳化硅的多场耦合网格划分方法、装置和产品
📄 申请号:CN202411431456.3
📄 发布日:2026/07/24
著录项目信息
申请日
2024-10-14
公开号
CN119272521B
公开日
2025-05-02
申请人
西安交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G06F30_20
IPC 分类号
G06F30_20
,
G16C20_10
,
G16C10_00
,
G06F17_11
,
C30B29_36
,
C30B15_00
,
G06F111_10
,
技术画像
所属领域
多物理场耦合仿真
多物理场耦合仿真
网格划分技术
数值模拟技术
应用场景
碳化硅晶体生长, 半导体材料制造, 功率半导体器件制造, 晶体生长工艺仿真, 工业数值模拟
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摘要
本申请提供了一种液相法生长碳化硅的多场耦合网格划分方法、装置和产品,涉及单晶生长技术领域,该方法为:根据液相法生长碳化硅系统的结构信息,建立几何模型;按照最大计算网格总量,进行网格划分,得到数值计算模型;基于数值计算模型,模拟多个不同电磁感应加热频率下的电磁感应加热过程、传热流动过程与组分输运过程,得到多组模拟结果;根据多组模拟结果,计算得到目标厚度拟合曲线,包括:浓度边界层厚度拟合曲线、热量边界层厚度拟合曲线和洛伦兹力边界层厚度拟合曲线;根据当前电磁感应加热频率,从厚度拟合曲线中确定多物理场耦合网格的网格厚度,进行网格划分,得到目标数值计算模型。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
液相法生长碳化硅中碳浓度边界层获取方法、装置和产品
当前第 / 件
导模法生长氧化镓晶体界面变形程度确定方法和优化方法
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📋 交易方式:
委托待转让
📌 交易状态:
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未申报
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