发明专利已授权

一种基于子孔径相消联合二次拟合法的残余相位误差校正系数估计方法

📄 申请号：CN202411869907.1 📄 发布日：2026/08/18

著录项目信息

申请日

2024-12-18

公开号

CN119322345A

公开日

2025-01-17

申请人

南京信息工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01S13_90

IPC 分类号

G01S13_90 , G01S7_40 , G06F17_16 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

合成孔径雷达成像, 雷达成像聚焦, 遥感信号处理

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摘要

本发明公开了一种基于子孔径相消联合二次拟合法的残余相位误差校正系数估计方法，包括步骤如下：（1）利用卫星轨道速度和波束移动速度，初步估计出雷达速度近似值，利用wKA算法对SAR回波数据粗略成像，生成复图像；（2）对复图像进行加窗截取，设置初始校正参数，分割子孔径并预处理，构建目标函数E1(X)，计算子孔径成像后的图像差值；（3）通过反射、扩展、收缩优化策略逐步逼近相位误差的最优解；（4）达到终止条件后，构建目标函数，并基于二次拟合进行精细优化，得到最优相位校正值x；（5）将得到的最优相位校正值x，利用wKA算法方位压缩，实现方位成像；本发明能够在不同场景和雷达配置下稳定工作。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20250415

✅ 授权

20250211

?? 实质审查的生效：

20250117

📄 公开

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：7 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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