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实用新型
已授权
一种用于GaN功率器件高阻层外延结构
📄 申请号:CN202221325826.1
📄 发布日:2025/10/24
著录项目信息
申请日
2022-05-30
公开号
CN218996722U
公开日
2023-05-09
申请人
河源市众拓光电科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
H01L29_06
IPC 分类号
H01L29_06
,
H01L29_20
,
H01L29_207
,
H01L21_335
,
技术画像
所属领域
半导体外延结构
半导体外延结构
氮化镓功率器件
半导体材料
应用场景
功率半导体, 电力电子, 高频器件
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摘要
本实用新型公开了一种用于GaN功率器件高阻层外延结构,包括衬底,以及从下到上依次形成于衬底上的:成核层、应力控制层和高阻GaN层,其中,高阻GaN层包含周期交替的Fe掺杂GaN层与自主C掺杂GaN层,这种周期交替类似超晶格的生长方式,极大的减弱了Fe源掺杂所带来的记忆效应,避免了Fe源记忆效应对GaN沟道的影响,同时又能弥补自主C掺杂的不均匀性,全面保证高阻层的耐压特性。本实用新型的外延材料在保持高阻特性的情况下,弥补了现阶段主流高阻层生长方法的不足,实现了材料耐压稳定性提升。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20230509
✅ 授权
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