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发明专利
已授权
一种具有非均匀体二极管的SiCMOSFET器件
📄 申请号:CN202010364664.1
📄 发布日:2026/07/23
著录项目信息
申请日
2020-04-30
申请人
西安理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L29_78
IPC 分类号
H01L29_78
,
H01L29_06
,
H01L29_36
,
H01L29_16
,
技术画像
所属领域
半导体器件
半导体器件
功率半导体器件
碳化硅器件
应用场景
新能源汽车, 光伏逆变器, 工业变频器, 充电桩, 智能电网
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摘要
本发明公开了一种具有非均匀体二极管的SiC MOSFET器件,n型4H‑SiC衬底上表面依次设有缓冲层、漂移区及电流扩展层,电流扩展层中间隔嵌有p阱区,每个p阱区中嵌有一个n+源区,每个n+源区中嵌有一个p+接触区;相邻p阱区的上端面共同覆盖有一个栅氧化层,该栅氧化层同时覆盖在部分n+源区以及n+源区之间电流扩展层上表面,栅氧化层上表面设有多晶硅栅,栅氧化层和多晶硅栅的外表面共同包裹有隔离介质层;在p+接触区、n+源区以及隔离介质层之上共同覆盖有源极;n型4H‑SiC衬底下表面设有漏极;栅极覆盖于隔离介质层上表面并与多晶硅栅相连。本发明的结构,显著提升了SiC MOSFET器件的可靠性。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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