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发明专利
已授权
一种用于梯度弹性研抛盘接触应力分布的解析方法
📄 申请号:CN201910687395.X
📄 发布日:2026/08/04
著录项目信息
申请日
2019-07-26
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G06F30_23
IPC 分类号
G06F30_23
,
G06F119_14
,
技术画像
所属领域
化学机械抛光
化学机械抛光
接触力学
精密加工
应用场景
半导体晶圆抛光, 精密光学加工, 机械表面处理, 智能制造, 超精密加工
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摘要
本发明公开了一种基于梯度弹性研抛盘的接触应力分布解析法,包括如下步骤:(1)针对工件的加工要求建立去除函数MRR(y);(2)根据Preston方程得到理想的接触应力分布函数P*(y),通过P*(y)确定研抛盘沿径向y上理想的的弹性模量分布函数E*(y);(3)根据E*(y)建立面内梯度分布弹性薄层接触模型,根据侧向形变εx与εy,引入补偿函数H(z)补偿非主轴应力对接触应力P(y)的影响,修正梯度弹性层在竖直方向的形变位移L,用半逆解法推导出接触应力解析方程P(y);(4)构建仿真模型,完成静态应力仿真,将仿真结果同解析方程建立耦合关系,假设补偿函数表达式,完成接触应力解析解的优化方程。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20230725
✅ 授权
20191206
?? 实质审查的生效 :
20191112
📄 公开
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📋 交易方式:
委托待转让
📌 交易状态:
在售
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未申报
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