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发明专利
已授权
一种高迁移率n型超薄纳米金刚石薄膜及其制备方法
📄 申请号:CN201810246649.X
📄 发布日:2026/08/04
著录项目信息
申请日
2018-03-23
公开号
CN108531883B
公开日
2020-06-09
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
C23C16_27
IPC 分类号
C23C16_27
,
C23C16_02
,
C23C16_56
,
C23C14_48
,
C23C14_35
,
C23C14_06
,
技术画像
所属领域
纳米金刚石
纳米材料
薄膜材料
半导体材料
纳米金刚石
应用场景
半导体器件, 电子元器件, 光学窗口, 散热材料, 传感器
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摘要
本发明公开了一种高迁移率n型超薄纳米金刚石薄膜及其制备方法:采用热丝化学气相沉积方法(HFCVD),在通过物理气相沉积(PVD)了过渡层的硅衬底上制备超薄纳米金刚石薄膜,过渡层的厚度为50‑100nm。以丙酮作为碳源,采用氢气鼓泡方式将碳源带入反应室腔体,生长时间约10‑30分钟,制备得到厚度200‑300nm的超薄纳米金刚石薄膜。对超薄纳米金刚石薄膜注入施主杂质离子,注入后的样品再进行低真空氧化退火,即得到所述具有新颖微结构的高迁移率n型超薄纳米金刚石薄膜。该结果对于实现金刚石薄膜在半导体器件、光电子领域、场发射显示器等领域的应用具有十分重要的意义和价值。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种基于机器视觉的圆柱滚子表面缺陷检测方法
当前第 / 件
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