发明专利 已授权

一种基于系统残差指纹的工业信息物理系统攻击检测方法

📄 申请号:CN201911210841.4 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2019-12-02
公开号
CN111079271B
公开日
2024-03-22
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业控制系统安全防护, 智能制造安全, 工业物联网安全, 关键基础设施保护, 工业网络安全

摘要

一种基于系统残差指纹的工业信息物理系统攻击检测方法,包括以下步骤:第一步,构造系统物理模型,给出其状态空间方程,确定了模型后,获取系统正常运行时的数据;第二步,通过系统辨识方法获得状态空间方程中各系数;第三步,针对目标数据,在其原基础上注入一个非零常数,实施虚假数据入侵形式的内部攻击;第四步,利用卡尔曼滤波预测下一时刻的系统状态,并得到系统残差的合成模型的一般形式,采用合成的残差指纹来检测恶意攻击;第五步,对小数值虚假数据入侵攻击下的残差指纹进行进一步采样,将残差指纹的变化放大。本发明通过利用系统残差指纹并结合新的采样方法,精确检测针对工业信息物理系统的攻击,同时提高了攻击检测的实时性。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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