摘要
一种基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法,包括以下步骤:步骤1:网表解析及相关量的初始化,步骤2:创建电路的特征集;步骤3:基于基准电路集合采集对应特征集[TS,PF,AP]的数据集[ts,pf,ap]及其标签R所对应的数据r;步骤4:依据数据集[ts,pf,ap,r]的特点与规模,构建面向电路可靠性预测的DAN模型;步骤5:基于所选取的DAN模型,依据新输入的特征数据,实现对电路结构可靠性的快速预测。本发明提供一种兼顾可靠性和计算时空开销的基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法。