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摘 要:本发明涉及半导体加工设备技术领域,公开了一种按照顺序有序键合,减少气泡产生的晶圆键合机。晶圆键合机包括两个卡盘,每一卡盘均包括支架以及设置于支架上的键合区,至少一个卡盘的键合区有多个,位于同一卡盘上的多个键合区独立设置,每一独立的键合区内均具有用于与晶圆抵接的键合点,晶圆键合机还包括用于控制键合点的键合顺序的键合机构。本发明利用键合机构调整键合点的键合顺序,从而使得两片晶圆有序键合。在晶圆的有序键合过程中,空气顺着键合方向逐渐移动并跑出,减少两片晶圆之间产生的气泡和空洞,提高产品良率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201811055423.8 | 专利名称: | 晶圆键合机 |
申请日: | 2018-09-11 | 申请/专利权人 | 德淮半导体有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H01L21/67搜分类 半导体搜索 |
公开/公告日: | 2019-01-11 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN109192684A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |