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  • 专利名称:一种硅基纳米多孔硅单凸透镜的制备方法      申请号:2018111867189     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体制造技术 纳米材料加工 光学元件制造   相似专利 发布日:2025/10/17  

    应用场景:微型光学器件集成;生物医学成像;光子芯片光路校准

  • 专利名称:具有温差发电机构的III-VHEMT器件的制备方法      申请号:2018106899620     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体制造技术 温差发电技术 电子器件集成   相似专利 发布日:2025/10/16  

    应用场景:工业废热回收发电;物联网设备自供电系统;高温环境能量采集

  • 专利名称:一种半导体激光器芯片尺寸厚度测量装置及测量方法      申请号:202110754588X     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体制造技术 光学测量技术 精密仪器   相似专利 发布日:2025/10/14  

    应用场景:半导体激光器芯片生产过程中的尺寸与厚度检测;芯片制造质量控制;高精度光学元件测量

  • 专利名称:晶圆级芯片封装结构及其制作方法      申请号:2022109694347     转让价格:面议  收藏
    法律状态:授权未缴费   类型:发明   关键词:半导体制造技术 集成电路封装   相似专利 发布日:2025/10/09  

    应用场景:提高芯片封装效率与良率;实现微小芯片的批量封装;应用于高性能计算芯片、传感器芯片等的封装

  • 专利名称:一种高敏半导体芯片封装引脚      申请号:2021216483074     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体制造技术 集成电路封装   相似专利 发布日:2025/09/23  

    应用场景:高灵敏度传感器芯片封装;精密电子器件性能优化;微小信号检测设备

  • 专利名称:一种高性能一体黑光阻      申请号:2021211155463     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体制造技术 光刻工艺材料 电子元件封装   相似专利 发布日:2025/09/17  

    应用场景:集成电路晶圆加工中的层间隔离与图形化处理;先进封装中的精细线路成型;微型显示器件的像素矩阵制备;MEMS传感器结构体的表面改性保护

  • 专利名称:一种半导体晶圆测试设备     申请号:2024221680023     转让价格:面议  收藏
    法律状态:授权未缴费   类型:实用新型   关键词:半导体制造技术 电子设备检测 自动化测试系统   相似专利 发布日:2025/09/15  

    应用场景:集成电路生产线上的晶圆电气性能检测;芯片良率分析与故障定位;半导体封装前的质量控制

  • 专利名称:一种基于机器视觉的芯片加工智能检测方法及系统      申请号:2024111724829     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体制造技术 人工智能 计算机视觉 自动化检测   相似专利 发布日:2025/09/12  

    应用场景:集成电路生产线上的晶圆缺陷识别与分类;封装前的芯片外观质量管控;实时在线SPC过程监控;良率提升的数据驱动决策支持

  • 专利名称:基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统      申请号:202411164354X     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体制造技术 精密仪器与测量 自动化检测系统 材料科学   相似专利 发布日:2025/09/12  

    应用场景:集成电路封装过程中微细孔道的质量监控;电子元件生产中的微观结构缺陷识别;工业自动化产线的在线无损检测;高端装备制造领域的精密组件质量评估

  • 专利名称:一种半导体加工用电压检测设备      申请号:2022233863632     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体制造技术 电子测量仪器 工业自动化控制   相似专利 发布日:2025/09/12  

    应用场景:晶圆生产线电压监控;芯片封装测试环节参数校准;半导体器件良率提升的质量管控系统;精密电子设备生产中的工艺稳定性保障

  • 专利名称:一种半导体测试用晶圆固定装置      申请号:2022233444802     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体制造技术 精密机械设计 自动化设备   相似专利 发布日:2025/09/12  

    应用场景:集成电路晶圆测试时的稳定夹持与定位;避免测试过程中因振动导致的位移误差;提升多引脚探针台接触可靠性;适用于逻辑芯片、存储器件等各类半导体元件的功能检测环节

  • 专利名称:基于深度强化学习的芯片全局自动布局方法      申请号:2022107186260     转让价格:面议  收藏
    法律状态:授权未缴费   类型:发明   关键词:半导体制造技术 集成电路设计 人工智能应用   相似专利 发布日:2025/09/02  

    应用场景:集成电路设计自动化流程中的物理层规划;先进制程节点下的复杂芯片生产;电子设计自动化软件集成方案;高性能计算芯片的快速迭代开发;晶圆代工厂工艺兼容性验证

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