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实用新型
已授权
一种半导体测试用晶圆固定装置
📄 申请号:CN202223344480.2
📄 发布日:2025/09/12
著录项目信息
申请日
2022-12-13
公开号
CN218867077U
公开日
2023-04-14
申请人
无锡海威半导体科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
H01L21_683
IPC 分类号
H01L21_683
技术画像
所属领域
固定装置
半导体测试设备
晶圆固定机构
真空吸附装置
固定装置
应用场景
半导体测试, 晶圆检测, 集成电路测试, 芯片制造, 晶圆探针测试
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摘要
本实用新型提供一种半导体测试用晶圆固定装置,涉及晶圆测试技术领域,包括安装座、顶板、方框和液压缸,所述方框的上侧固定连接有固定机构。本实用新型通过设置固定机构,实现在对晶圆进行固定的同时,避免划伤晶圆和晶圆损坏,通过启动薄型气缸,薄型气缸的活动杆向上伸长,并推动连杆的一端,连杆的中部绕着底架的连接点转动,连杆的另一端向下,从而带动螺纹杆和转动球向下,转动球推动球形槽管,固定板获力,通过下表面若干橡胶半球压住晶圆,若干橡胶半球材质是橡胶,不会划伤晶圆,向下压的过程中发生形变,与晶圆接触的表面积扩大,晶圆所受到的压强较小,晶圆不会损坏。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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